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ZLDS202激光二維掃描傳感器

ZLDS202高精度激光掃描傳感器專為高精度二維輪廓掃描而設計,同時具備速度、精度和卓越性能,Z軸具有0.05%的線性度,0.01%的分辨率,可穩定且高精度測量所有難以檢測的物體。

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- 主要特點-
  • 測量范圍從10毫米到200毫米,適用于大部分測量場合;

  • 非接觸式測量,適應各種被測體表面;

  • 采樣率高達6800剖面/秒,從而實現高圖像質量;

  • 源于其緊湊的設計和高掃描分辨率,特別適合靜態、動態和機器人應用;

  • 用于掃描儀參數化、圖像和剖面可視化的web界面

  • 具有恢復模式,恢復至硬件故障或用戶操作錯誤前的基本模式,減小操作失誤后的測量誤差。

-應用領域-

ZLDS202傳感器有著非常廣泛的應用,外輪廓,厚度,高度,深度,邊沿,凹槽,角度,圓度,平整度,變形等應用,適用于任何類型工業領域,如汽車、鐵路、機械加工、自動化生產等領域。

  

 

- 技術規格-

- 測量原理-

基于光學三角測量原理(見下圖)。

半導體激光器的輻射是由一條直線上的透鏡投射到一個物體上而形成的。從物體散射的輻射由透鏡收集并定向到一個二維CMOS圖像傳感器。通過FPGA和信號處理器對形成的物體輪廓圖像進行分析,計算出物體上激光直線上各點到物體的距離(z坐標)。掃描儀的特征是Z坐標的量程起點(SMR), Z坐標的量程起點(MR), Z坐標的量程起點(Z)

 

- 成功案例-

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